高溫老化房與高溫試驗(yàn)箱差異：

在普桑達(dá)長期與客戶交談接觸中，經(jīng)常會遇到用戶對于高溫老化房與高溫試驗(yàn)箱等指標(biāo)近似作用界限模糊的設(shè)備分不清的情況發(fā)生，因此普桑達(dá)在此做出詳細(xì)的說明。希望對有需要或是正在使用中的客戶有所幫助！

（一）兩者對應(yīng)產(chǎn)品的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：
①高溫老化房：
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》GB/T2423.2-2001
《低壓配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB50054-95
《供配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB5002S2-95
《電氣裝置安裝工程接地裝置施工及驗(yàn)收規(guī)范》GB50169-92
《建筑材料燃燒性能分級》
《通風(fēng)與空調(diào)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》

②高溫試驗(yàn)箱：
設(shè)備滿足GB2423.1-2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》國家標(biāo)準(zhǔn)
　　
（二）兩者的用途差異：
①高溫老化房：
該系列設(shè)備適用于大型零部件或整機(jī)樣品的耐高低溫、高溫老化、高溫高濕及低溫恒定濕熱的性能測試。廣泛應(yīng)用于電工、電子、儀器儀表、汽車等行業(yè)。

②高溫試驗(yàn)箱：

本產(chǎn)品可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫老化環(huán)境條件下存儲和使用的適應(yīng)性。適用于航天航空產(chǎn)品、信息電子、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在高溫?zé)岘h(huán)境下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

（三）指標(biāo)的異同：
①高溫老化房
由于高溫老化房沒有產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗(yàn)箱指標(biāo)：
溫度范圍：RT--80℃（可按要求做到120℃）
溫度均勻度：≤2℃或3℃
控制精度：±2℃
升溫時(shí)間：約3℃/min
②高溫試驗(yàn)箱：
溫度范圍：RT--300℃（可按要求做到600℃）
溫度均勻度：溫度均勻度：正負(fù)1℃
溫度偏差：1℃
升溫時(shí)間：約3℃/min

（四）兩者的結(jié)構(gòu)差異
①高溫老化房：一般要考慮試品架或試品車的情況。

②高溫試驗(yàn)箱：由于溫場要求較高，一般采用層流設(shè)計(jì)。